报告摘要:

This year marks the 110th anniversary not only of Physics at Peking University, but also the discovery of X-ray diffraction by crystals. Since the advent of synchrotron sources, in situ X-ray scattering from surfaces has become a powerful probe to observe the atomic-scale mechanisms of epitaxial film growth. I will present highlights of such studies from the work of our group and others. The new generation of high-coherence X-ray sources presents exciting opportunities for observing dynamics and imaging surfaces during crystal growth.

报告人简介：

自1995年以来，G. Brian Stephenson博士在阿贡国家实验室领导同步辐射材料研究小组，并在2011至2014年间担任先进光子源（Advanced Photon Sources）的一把手。在加入阿贡之前，他曾在纽约的IBM研究中心担任团队负责人。Stephenson博士持有麻省理工学院学士学位和斯坦福大学的博士学位，并因其在物理学领域的卓越贡献于1991年被授予美国物理学会会士荣誉。因其在硬X射线纳米探针领域的突出贡献，他在2009年荣获了R&D 100奖。Stephenson博士将深入探讨第四代相干X射线在材料合成过程的动态观察和成像方面的前景和应用，并分享他在这个领域的深入见解和最新的研究成果。

现场参会报名：请于10月11日12:00前提交报名信息。

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